BTX III的产品参数和应用原理 MPS450W15VSS.6li.com
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BTX III 是一款由美国奥 林巴斯（Olympus）开发的小型台式 X射线衍射仪（XRD），部分资料也显示其品牌现由“仪景通”承接（原奥林巴斯团队）25。该设备结合了 XRD 与 XRF 技术，支持同步分析，适用于矿物识别、制药、石油天然气、尾矿评估等多个领域。
产品参数
型号：BTX III
品牌：美国 Olympus（现由仪景通等代理）
产地：美国（部分渠道误标为日本，但权威资料一致确认为美国）12
重量：12.5 kg，一体式便携设计
尺寸：30 cm × 17 cm × 47 cm
电源要求：普通 AC 电源，无需压缩气体、水冷或外置变压器
工作温度：-10°C ~ 35°C
X射线管：
靶材：钴（Co，标准）或铜（Cu）
电压：30 kV
功率：10 W
探测器：
类型：1024 × 256 像素能量分辨型 X 射线探测器
功能：同时采集 XRD 衍射图与 XRF 元素光谱
样品量：约 15 mg（松散粉末）
样品粒度：≤150 μm（约100目筛）
数据存储：240 GB 坚固内部硬盘
连通性：以太网 无线（802.11 b/g），支持远程控制与自动数据传输
软件：SwiftMin®，支持自动矿物相识别、定量分析、实时数据显示与导出
应用原理
BTX III 基于 X射线衍射（XRD） 和 X射线荧光（XRF） 两种物理原理：
XRD 原理：
利用 X 射线照射样品，晶体结构会对特定波长的 X 射线产生 衍射，形成特征衍射图谱。通过分析衍射角（2θ）和强度，可识别物质的 物相组成（如石英、方解石、赤铁矿等）并进行 定量分析。
XRF 原理：
X 射线激发样品原子内层电子，外层电子跃迁填补空位时发射特征荧光 X 射线，通过检测其能量与强度，可获得 元素组成信息。
关键技术优势：
透射几何：X 射线穿透样品，而非反射，减少择优取向影响，提高低密度样品（如药物）分辨率4。
振动样品托盘：使颗粒对流，确保晶粒随机取向，仅需 15 mg 样品即可获得高精度衍射图35。
能量分辨探测器：过滤背景噪声（如荧光、散射），提升信噪比与检出限4。
SwiftMin 软件：实现实时相识别、自动校准、数据导出与网络传输，支持现场快速决策15。
