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在测量系统分析中,为什么计量器具的 分辨率是首先要考虑的因素?

在测量系统分析中,为什么计量器具的分辨率是首先要考虑的因素?

计量器具的分辨率是仪器设计时的固有特性,做为测量过程的重要组成部份,如果仪器的分辨率都不满足要求,后续测量过程的能力(GRR%)通常是不会满足要求的。

01

什么是分辨率?对分辨率有什么样的要求?

在AIAG出版的MSA手册中提到,测量的问题主要是三个方面:

1 测量系统是否具有足够的分辨率?

2 测量过程的误差随时间是否具有统计稳定性?

3 测量过程的误差(统计特性)相对于用途是否满足要求?

对于第一个问题,测量系统是否具有足够的分辨率?分为两步研究,首先,测量仪器的显示分辨率是否满足1/10的原则,其次,考虑到整个测量过程的变差,能把制造过程的零件波动分成几个等份,可以用ndc来表达,通常也称为测量系统的有效分辨率。

在通用计量术语及定义(JJF1001-2011)中,对显示装置分辨率的定义为“能有效辨别的显示示值间的最小差值”。通常它就是指量具的最小刻度,如处图所示。

对于这种定义的理解,不能被理解为是测量设备测量值的最后一位读数,比如,测量设备测量某个特征得以的测量值为12.305mm,不能认为显示装置的分辨率就是0.001mm,它也有可能是0.005mm,那么如何较好的从测量值的角度去理解分辨率的概念呢,我们可以在数值离散图上去看,如下图所示,相邻最近的两个不同值之间的差值即为量具的分辨率。

在AIAG的MSA手册中,对于显示分辨率的要求,通常用1/10法则,即量具的分辨率是公差和过程变差较小者的1/10,以前的质量管理活动侧重在产品控制时,按公差的1/10选择量具即可,当前的质量管理活动强调过程控制,需要按过程变差的1/10来选择。通常在量具选购阶段,实际加工过程的过程变差是不知道的,很多企业在选购量具时直接按照公差的1/10来选择,这样的量具选购方式必然会导致后期测量系统分析时不能满足要求。

02

为什么显示分辨率为公差的1/10, GRR%不能满足小于10%的要求?

如果在选择量具时,仅仅满足Resolution/T(公差)=1/10,因为Resolution<=GRR,而T>PV(过程变差),此时要求GRR%(GRR/PV)<=1/10通常不现实,例如,数显游标卡尺的分辨率为0.01mm,使用这把卡尺去测量产品特性(公差为0.1mm)的测量系统的随机误差,除了包含量具分辨率的影响,还包括人与人的不同的差别,测量系统本身的重复性误差,故GRR通常是大于0.01mm的,此时用GRR/0.1应该是大于10%,更何况过程变差比公差小,如计算占过程变差的百分比,则GRR%会更大。

AIAG的MSA手册中提到在进行spc控制时,不合适的分辨率的最佳象征,可由极差图看出来,尤其是,当极差图中只有一、二、三种可能的极差值在控制限内时,或者极差图显示有4种可能的极差值在控制限值内且超过四分之一以上的极差值为0,则该测量是在分辨率不足的情况下进行的,如下图所示,上面为分辨率为0.001的情况,下图为0.01的情况。

当然,我们在前面的短文中也提到,当测量系统的分辨率不足时,通过样本数据没有办法对过程的分布模型进行合理的推断,如下图所示:

如果显示装置的分辨率不按公差的1/10来选择,而是按过程变差的1/10来选择的话,通常在进行设备能力研究时,要求设备能力指数为2.0,即过程变差为公差的1/2,要求量具的分辨为过程变差的1/10,即公差的1/20.在ISO22514-7国际标准,包括Bosch, VW, BMW, GM等汽车公司标准中,通常规定量具的分辨率需要小于公差的5%,基于这样的标准来选择量具,是后期进行测量过程验收的前提条件。

当然,对于使用光栅尺的测量设备而言,其测量的重复精度在它生产出来后是固定的,但可以通过软件的设置显示位数不一样,从而使得它的最小显示分辨差值发生改变,通常对这类量具的选购会按最大允许误差(MPE)有选购,MPE在通用计量术语及定义(JJF1001-2011)中定义为:对给定的测量、测量仪器或测量系统,由规范或规程所允许的,相对于已知参考量的值的测量误差的极限值。通常这类测量设备的选购要求MPE小于公差的1/10。

03

总结

在这篇短文中,我们介绍了测量仪器显示分辨率定义,强调在进行测量系统分析时,首先要考虑的是量具的显示分辨率,也说明了如果显示分辨率不满足时,对后期测量过程能力研究,生产过程控制的影响。结合一些公司标准,建议企业在选购量具时,按公差的1/20来选购量具, 同时对于使用光栅尺的测量设备,建议按相关技术规范中的MPE来选购测量设备,当然,对于标准量具,因为其生产和检定都有相关的技术规范,通常除了分辨率满足公差的1/20,其MPE也应满足公差1/10的要求。

我们认为,测量系统分析的工作开始于测量设备的采购需求提出,测量过程的前期策划开发活动可以参照APQP的流程,量化的验活动必要时,可以在量具供应商预验收阶段开展,在终验收阶段,最终确认测量过程的能力,量产后, 主要是控制测量过程的稳定性。

小伙伴们,量具的分辨率的选择是测量系统分析的重要内容,我想大家再也不会接受量具的分辨率为公差的1/10,而计算出来的GRR%<10%的MSA报告了吧。

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END

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